Optische Oberflächenmesstechnik in rauer Fertigungsumgebung
Qualitätskontrolle – Prozesssteuerung – Kostensenkung
Kontakt
Optosurf GmbH
Nobelstraße 9-13
D-76275 Ettlingen
Telefon: +49 72 43 20053 00
E-Mail: info@optosurf.de
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DatenschutzRauheits-, Rundheits- und Welligkeitsmessung auf dem gotischen Bogen
Rauheits-, Rundheits- und Welligkeitsmessung auf Innen- und Außenlaufflächen
Manuelle und automatisiert Seidenglanzmessung auf Galvanikschichten
Rauheits- und Welligkeitsmessung auf polierten Lackflächen
Die Qualität polierter Lackflächen trägt wesentlich zum Erscheinungsbild, beispielsweise von Karrosserien in der Automobilindustrie bei. Die Prüfung auf Inhomogenitäten oder Kratzer der Lacke, erfolgt größtenteils mit dem menschlichen Auge in speziellen Prüfräumen. Die Ergebnisse sind jedoch nicht eindeutig quantifizierbar, reproduzierbar und darüber hinaus rein subjektiv. Der Streulichtsensor ist in der Lage eine automatische Homogenitätsprüfung vorzunehmen und die Qualitätssicherung zu automatisieren. Je nach Lackzusammensetzung können Grenzwerte definiert werden, um iO- und niO-Teile zu unterscheiden.
Standzeitüberwachung von Schleifscheiben bei simultaner Rundheits- und Welligkeitsmessung
Rauheits-, Rundheits- und Welligkeitsmessung auf Wälzlager Innen- und Außenringen und Wälzkörpern
Process related measurements of roughness, roundness, and waviness
Roughness, roundness and waviness measurement on the gothic arch
Automated roughness and waviness measurement on worm flanks
Measuring roundness up to 100 %. Tolerance 0.5 µm
In-process measurement (rougness, straightness) in the nanometer range
Measuring waviness and roughness process-orientated
Form, waviness, and roughness measurement on the shell
Tool lifetime monitoring of grinding wheels while measuring roundness and waviness
Roughness, roundness, and waviness measurement on bearing running surfaces of inner and outer bearing rings
Manual and automated gloss measurement on galvanized surfaces (coated)
From laboratory to 100 % production measurements. Roughness measurement < Ra 10 nm
Fast roughness and waviness measurement in the nanometer range
Measuring roughenss and warpage on 600 x 600 mm²
