Optische Oberflächenmesstechnik in rauer Fertigungsumgebung
Qualitätskontrolle – Prozesssteuerung – Kostensenkung
Kontakt
Optosurf GmbH
Nobelstraße 9-13
D-76275 Ettlingen
Telefon: +49 72 43 20053 00
E-Mail: info@optosurf.de
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Profibuskarte PCIe Beckhoff 3121
Manuelle und automatisiert Seidenglanzmessung auf Galvanikschichten
Profibuskarte PCIe Beckhoff 3121
Standzeitüberwachung von Schleifscheiben bei simultaner Rundheits- und Welligkeitsmessung
Profibuskarte PCIe Beckhoff 3121
Rauheits-, Rundheits- und Welligkeitsmessung auf Wälzlager Innen- und Außenringen und Wälzkörpern
Profibuskarte PCIe Beckhoff 3121
Rauheits-, Rundheits- und Welligkeitsmessung auf dem gotischen Bogen
Profibuskarte PCIe Beckhoff 3121
Rauheits-, Rundheits- und Welligkeitsmessung auf Innen- und Außenlaufflächen
Profibuskarte PCIe Beckhoff 3121
From laboratory to 100 % production measurements. Roughness measurement < Ra 10 nm
Profibuskarte PCIe Beckhoff 3121
Manual and automated gloss measurement on galvanized surfaces (coated)
Profibuskarte PCIe Beckhoff 3121
In-process measurement (rougness, straightness) in the nanometer range
Profibuskarte PCIe Beckhoff 3121
Tool lifetime monitoring of grinding wheels while measuring roundness and waviness
Profibuskarte PCIe Beckhoff 3121
Roughness, roundness, and waviness measurement on bearing running surfaces of inner and outer bearing rings
Profibuskarte PCIe Beckhoff 3121
Rauheits- und Welligkeitsmessung auf polierten Lackflächen
Die Qualität polierter Lackflächen trägt wesentlich zum Erscheinungsbild, beispielsweise von Karrosserien in der Automobilindustrie bei. Die Prüfung auf Inhomogenitäten oder Kratzer der Lacke, erfolgt größtenteils mit dem menschlichen Auge in speziellen Prüfräumen. Die Ergebnisse sind jedoch nicht eindeutig quantifizierbar, reproduzierbar und darüber hinaus rein subjektiv. Der Streulichtsensor ist in der Lage eine automatische Homogenitätsprüfung vorzunehmen und die Qualitätssicherung zu automatisieren. Je nach Lackzusammensetzung können Grenzwerte definiert werden, um iO- und niO-Teile zu unterscheiden.
