Optische Oberflächenmesstechnik in rauer Fertigungsumgebung
Qualitätskontrolle – Prozesssteuerung – Kostensenkung
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Optosurf GmbH
NobelstraĂźe 9-13
D-76275 Ettlingen
Telefon: +49 72 43 20053 00
E-Mail: info@optosurf.de
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DatenschutzProduktdatenblatt _OS 500 Sensor
Rauheits-, Rundheits- und Welligkeitsmessung auf dem gotischen Bogen
Produktdatenblatt _OS 500 Sensor
Rauheits-, Rundheits- und Welligkeitsmessung auf Innen- und Außenlaufflächen
Produktdatenblatt _OS 500 Sensor
Manuelle und automatisiert Seidenglanzmessung auf Galvanikschichten
Produktdatenblatt _OS 500 Sensor
Rauheits- und Welligkeitsmessung auf polierten Lackflächen
Die Qualität polierter Lackflächen trägt wesentlich zum Erscheinungsbild, beispielsweise von Karrosserien in der Automobilindustrie bei. Die Prüfung auf Inhomogenitäten oder Kratzer der Lacke, erfolgt größtenteils mit dem menschlichen Auge in speziellen Prüfräumen. Die Ergebnisse sind jedoch nicht eindeutig quantifizierbar, reproduzierbar und darüber hinaus rein subjektiv. Der Streulichtsensor ist in der Lage eine automatische Homogenitätsprüfung vorzunehmen und die Qualitätssicherung zu automatisieren. Je nach Lackzusammensetzung können Grenzwerte definiert werden, um iO- und niO-Teile zu unterscheiden.
Produktdatenblatt _OS 500 Sensor
StandzeitĂĽberwachung von Schleifscheiben bei simultaner Rundheits- und Welligkeitsmessung
Produktdatenblatt _OS 500 Sensor
Rauheits-, Rundheits- und Welligkeitsmessung auf Wälzlager Innen- und Außenringen und Wälzkörpern
Produktdatenblatt _OS 500 Sensor
In-process measurement (rougness, straightness) in the nanometer range
Produktdatenblatt _OS 500 Sensor
Tool lifetime monitoring of grinding wheels while measuring roundness and waviness
Produktdatenblatt _OS 500 Sensor
Roughness, roundness, and waviness measurement on bearing running surfaces of inner and outer bearing rings
Produktdatenblatt _OS 500 Sensor
Manual and automated gloss measurement on galvanized surfaces (coated)
Produktdatenblatt _OS 500 Sensor
From laboratory to 100 % production measurements. Roughness measurement < Ra 10 nm
