Optische Oberflächenmesstechnik in rauer Fertigungsumgebung
Qualitätskontrolle – Prozesssteuerung – Kostensenkung
Kontakt
Optosurf GmbH
Nobelstraße 9-13
D-76275 Ettlingen
Telefon: +49 72 43 20053 00
E-Mail: info@optosurf.de
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DatenschutzRauheits-, Rundheits- und Welligkeitsmessung
Rauheits- Rundheits- und Welligkeitsmessung
Form- und Rauheitsmessung
Rauheits-, Rundheits- und Welligkeitsmessung
Rauheits-, Rundheits- und Welligkeitsmessung auf dem gotischen Bogen
Rauheitsmessung in Funktionsrichtung
Rauheits-, Rundheits- und Welligkeitsmessung auf Innen- und Außenlaufflächen
Von der Labor- bis zur 100% Messung. Rundheitstoleranz: 0,5 µm
Manuelle und automatisiert Seidenglanzmessung auf Galvanikschichten
Rauheits- und Welligkeitsmessung von Klebeflächen
Von der Labor- bis zur 100% Messung. Rauheitsmessungen < Ra 10 nm
Reibungsoptimierung durch Beschichten
Rauheits- und Welligkeitsmessung auf polierten Lackflächen
Die Qualität polierter Lackflächen trägt wesentlich zum Erscheinungsbild, beispielsweise von Karrosserien in der Automobilindustrie bei. Die Prüfung auf Inhomogenitäten oder Kratzer der Lacke, erfolgt größtenteils mit dem menschlichen Auge in speziellen Prüfräumen. Die Ergebnisse sind jedoch nicht eindeutig quantifizierbar, reproduzierbar und darüber hinaus rein subjektiv. Der Streulichtsensor ist in der Lage eine automatische Homogenitätsprüfung vorzunehmen und die Qualitätssicherung zu automatisieren. Je nach Lackzusammensetzung können Grenzwerte definiert werden, um iO- und niO-Teile zu unterscheiden.
Rundheitsmessung und Defekterkennung
Schnelle Rauheits- und Welligkeitsmessung im Nanometerbereich
Rauheit und Warpage auf 600 x 600 mm² messen
Vollflächige Messung von Spiegelglanzwalzen im Nanometerbereich
Standzeitüberwachung von Schleifscheiben bei simultaner Rundheits- und Welligkeitsmessung
Rauheits-, Rundheits- und Welligkeitsmessung auf Wälzlager Innen- und Außenringen und Wälzkörpern
Rauheits-, Rundheits- und Welligkeitsmessung auf Mantelflächen
In- Prozess Messung (Rauheit, Geradheit) im Nanometerbereich
Welligkeit und Rauheit prozessnah messen
Process related measurements of roughness, roundness, and waviness
Roughness, roundness and waviness measurements
Roughness, roundness and waviness measurement on the gothic arch
Roughness, roundness and waviness measurement
Automated roughness and waviness measurement on worm flanks
Roughness, roundness and waviness measurement
Measuring roundness up to 100 %. Tolerance 0.5 µm
Roughness measurement in functional direction
Form and roughness measurement
In-process measurement (rougness, straightness) in the nanometer range
Measuring waviness and roughness process-orientated
Form, waviness, and roughness measurement on the shell
Tool lifetime monitoring of grinding wheels while measuring roundness and waviness
Manual and automated gloss measurement on galvanized surfaces (coated)
Roughness and waviness on adhesive surfaces
From laboratory to 100 % production measurements. Roughness measurement < Ra 10 nm
Optimizing friction bevavior by coating
Fast roughness and waviness measurement in the nanometer range
Measuring roughenss and warpage on 600 x 600 mm²
Roundness and defect measurements
Rauheits-, Rundheits- und Welligkeitsmessung
Rückführbares Rauheitsnormal
In Zusammenarbeit mit dem DFM (Danmarks Nationale Metrologiinstitut) bietet OptoSurf ein auf SI-Einheiten rückgeführtes Prüfnormal (Si-Normal Aq<2, Lambert Normal: Aq>90) für die Kalibrierung des Streulichtmesssystems an. Die Rückführung erfolgt unter Betrachtung der internationalen Norm ISO/IEC 17025:2017. Das DFM ist nach dem Qualitätsmanagementsystem ISO9001:2017 zertifiziert und wie die PTB ein nationales Metrologieinstitut.
Mehr zu unseren Normalen finden Sie hier.
Messeteilnahme Control 2020 – 05.05 – 08.05.2020
Vom 05. bis 08. Mai 2020 findet die 34. Control – die internationale Fachmesse für Qualitätssicherung – in der Landesmesse Stuttgart statt. Die Weltleitmesse für Qualitätssicherung bringt Anbieter QS-relevanter Technologien, Produkte, Systeme sowie Komplettlösungen aus Hard- und Software mit den Anwendern und Entscheidern zusammen. Als Aussteller und innovativer Technologieanbieter laden wir Sie ein, uns auf unserem Stand zu besuchen. Sie finden uns in Halle 3, Stand Nr. 3203.
Erfahren Sie auf unserem Messestand, wie unsere Technologie Sie in Ihrer Entwicklung, der Qualitätssicherung als auch der Prozesssteuerung unterstützen kann.
Kostenlose Tickets erhalten Sie selbstverständlich über OptoSurf.
Zertifiziertes Wellennormal
In Zusammenarbeit mit der dem eidgenössischen Institut für Metrologie (METAS) bietet OptoSurf die Zertifizierung des angebotenen Wellennormals (WS 300/01) zum Nachweis der Messmittelfähigkeit (Rundheits- und Welligkeitsmessung) nach Verfahren 1 und zur Kalibrierung von Messmaschinen an. Die Zertifikatausstellung erfolgt nach ISO/IEC 17025. Dies entspricht den selben Vorgaben, nach welchen DAkkS Zertifikate ausgestellt werden.
Auf das OptoSurf Wellennormal sind 300 Wellen mit einer Wellentiefe von 0,1 µm auf einem Umfang aufgebracht. Die Amplitudenspektren werden auf dem Wellennormal durch die METAS mit einer Rundheitsmessmaschine ermittelt. Das Zertifikat zeigt, dass die Ergebnisse der Welligkeitsmessung und FFT mit denen hochpräziser Rundheitsmessmaschinen vergleichbar sind. Für bereits eingesetzte Wellennomale kann die Zertifizierung nachbestellt werden.
Messeteilnahme Control 2019 – 07.05. – 10.05.2019
Auch 2019 wird OptoSurf als Aussteller auf der Control in Halle 3 Stand 3409 anzutreffen sein. Die Control 2019 findet vom 07.05. – 10.05.2019 in Stuttgart statt. Erfahren Sie bei einer Tasse Kaffee, welche Möglichkeiten die Streulichttechnologie für Ihre Produkte und Prozesse bietet. Kostenlose Eintrittskarten erhalten Sie selbstverständlich bei OptoSurf.
Anwendungsvideos
Forschungsprojekte
GPS-Meeting Chemnitz
Mit ISO GPS (Geometrische Produktspezifikation) werden Regeln für Konstruktion, Fertigung und Messtechnik entwickelt, die eine fehlerfreie zeichnungsbasierte Spezifikation und Verifikation von technisch-mechanischen Systemen und Komponenten mit geringsten Interpretationsspielräumen in allen Bereichen der Industrie sicherstellen. Als Messtechnikspezialist beteiligt sich OptoSurf vom 18. bis 19.09.2018 als Aussteller beim GPS-News Meeting in der Stadthalle Chemnitz.
Quality Engineering Innovationsforum – Oberflächenmesstechnik 4.0
Besuchen Sie am 09.10.2018 das 5. QE Innovationsforum in Stuttgart. In den Räumlichkeiten des Parkhotels Stuttgart hält OptoSurf einen Vortrag zum Themenbereich „Oberflächenmesstechnik 4.0 in Fertigungsumgebung“. Für mehr Informationen klicken Sie bitte hier
GPS-Meeting Chemnitz
Mit ISO GPS (Geometrische Produktspezifikation) werden Regeln für Konstruktion, Fertigung und Messtechnik entwickelt, die eine fehlerfreie zeichnungsbasierte Spezifikation und Verifikation von technisch-mechanischen Systemen und Komponenten mit geringsten Interpretationsspielräumen in allen Bereichen der Industrie sicherstellen. Als Messtechnikspezialist beteiligt sich OptoSurf vom 18. bis 19.09.2018 als Aussteller beim GPS-News Meeting in der Stadthalle Chemnitz.
Quality Engineering Innovationsforum – Oberflächenmesstechnik 4.0
Besuchen Sie am 09.10.2018 das 5. QE Innovationsforum in Stuttgart. In den Räumlichkeiten des Parkhotels Stuttgart hält OptoSurf einen Vortrag zum Themenbereich „Oberflächenmesstechnik 4.0 in Fertigungsumgebung“. Für mehr Informationen klicken Sie bitte hier