Precise – Reliable – Customizable
For special applications, OptoSurf engineered measurement solutions are ideal for use in research institutes, and especially for use as SPC-measurement devices in a production environment. If requirements allow it, integration in the production line, or the use of a measurement device directly next to the producing machine, is the optimal solution. This way tool conditions can be monitored, and it is possible to detect tool wear using measurement data. The system’s insensitivity to vibration offers completely new possibilities for measuring roughness, and sometimes even form deviation, on complex parts in combination with robots.
Optical surface measurements in a harshly shop floor environment
Quality control – process control – cost reduction
Optosurf GmbH
Nobelstraße 9-13
GER-76275 Ettlingen
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From laboratory to 100 % production measurements. Roughness measurement < Ra 10 nm
Manual and automated gloss measurement on galvanized surfaces (coated)
Roughness, roundness, and waviness measurement on bearing running surfaces of inner and outer bearing rings
Tool lifetime monitoring of grinding wheels while measuring roundness and waviness
In-process measurement (rougness, straightness) in the nanometer range
Rauheits-, Rundheits- und Welligkeitsmessung auf Wälzlager Innen- und Außenringen und Wälzkörpern
Standzeitüberwachung von Schleifscheiben bei simultaner Rundheits- und Welligkeitsmessung
Rauheits- und Welligkeitsmessung auf polierten Lackflächen
Die Qualität polierter Lackflächen trägt wesentlich zum Erscheinungsbild, beispielsweise von Karrosserien in der Automobilindustrie bei. Die Prüfung auf Inhomogenitäten oder Kratzer der Lacke, erfolgt größtenteils mit dem menschlichen Auge in speziellen Prüfräumen. Die Ergebnisse sind jedoch nicht eindeutig quantifizierbar, reproduzierbar und darüber hinaus rein subjektiv. Der Streulichtsensor ist in der Lage eine automatische Homogenitätsprüfung vorzunehmen und die Qualitätssicherung zu automatisieren. Je nach Lackzusammensetzung können Grenzwerte definiert werden, um iO- und niO-Teile zu unterscheiden.
