Технология измерений методом рассеянного света

Контроль поверхности методом рассеянного света - это  высокая  скорость,  точность и оценка полностью всей поверхности функционально значимых компонентов.

На основе данного принципа  фирмой OptoSurf создан новый сенсор, который точно регистрирует при  оснащении прецизионной оптикой и высокоточным детектором  луч, рассеянно отраженный от поверхности объекта. По этому распределению определяются статистические параметры шероховатости и отклонения  формы.

В процессе измерения светодиодный источник света генерирует на поверхности материала измерительное пятно размером прим. в 1 mm².  Поверхность материала представляет собой при этом микроскопические неровности, от которых лучи света отклоняются более или менее в зависимости от крутизны этих неровностей.  Если цепи неровностей расположены параллельно (шлифованная структура), то отклонение лучей света, расположенных поперечным относительно цепей неровностей,  будет значительно больше, чем в продольном направлении.

По распределению рассеянно-отраженного света получают информацию о высоте и характере микронеровностей.